（有關(guan)完整規(gui)格，請參(can)見數據(ju)表）
測量(liang)參數和(he)基本測(ce)量精度(du)：
| 參數 | 測(ce)量範圍(wei) | 快速 | 介(jie)質 | 慢 |
| 脂(zhi)蛋白 | 0.001 nH至(zhi)99.999 H | +/- 0.5％ | +/- 0.25％ | +/- 0.1％ |
| Cs，Cp | 1 pF至9.9999 F | +/- 0.5％ | +/- 0.25％ | +/- 0.1％ |
| 東風(feng) | 0.00001至99.999 | +/- 0.005 | +/- 0.0025 | +/- 0.001 |
| 問 | 0.00000至(zhi)9999.9 | +/- 0.005 | +/- 0.0025 | +/- 0.001 |
| Y，Gp，Bp | 10 nS至9999.9 S | +/- 0.005 | +/- 0.0025 | +/- 0.001 |
| | Z |，Rs，Rp，Xs，ESR | 0.0001兆歐(ou)至99.999兆歐(ou) | +/- 0.5％ | +/- 0.25％ | +/- 0.1％ |
| 相位角(jiao) | -180.00至+179.99度 | +/- 1.8° | +/- 0.9° | +/- 0.18° |
| DCR | 0.1 m V 至(zhi)100 K V | +/- 0.5％ | +/- 0.25％ | +/- 0.1％ |
| DUT交流電(dian)壓 | 20 mV至1.0 V | +/- 2％ | +/- 2％ | +/- 2％ |
| DUT交(jiao)流電流(liu) | 1μA至150 mA | +/- 2％ | +/- 2％ | +/- 2％ |
| DUT直流(liu)電壓 | 20 mV至(zhi)1.0 V | +/- 2％ | +/- 2％ | +/- 2％ |
| DUT直流電(dian)流 | 1μA至150 mA | +/- 2％ | +/- 2％ | +/- 2％ |
*在(zai)最佳測(ce)試信号(hao)電平，頻(pin)率，DUT值且(qie)沒有校(xiao)準不确(que)定性的(de)情況下(xia)。電容（Cs / Cp），電(dian)感（Ls / Lp），電阻(zu)（Rs / Rp），耗散（D）和(he)質量（Q）因(yin)素，阻抗(kang)Z，導納Y，相(xiang)角（0-），等效(xiao)🌍串聯電(dian)阻（ESR） ），電導(dao)率（Gp），電抗(kang)（Xs），電納（Bp）注(zhu)意：s =串聯(lian)，p =并聯，等(deng)效于Rs的(de)♋ESR
測試頻(pin)率範圍(wei)： 20 Hz至1 MHz，連續(xu)
測試頻(pin)率分辨(bian)率： 20 Hz為1 Hz到(dao)1 kHz，4位數字(zi)> 1 kHz
測試頻(pin)率精度(du)： +/-（0.01％+0.02 Hz）
測量速(su)度：快：40米(mi)/秒介質(zhi)：8米/秒慢(man)1米/秒
範(fan)圍： 自動(dong)，範圍保(bao)持或用(yong)戶可選(xuan)的
觸發(fa)器： 内部(bu)（自動），外(wai)部（通過(guo)RS-232，IEEE-488.2，處理程(cheng)序接口(kou)或手動(dong)）
源阻抗(kang)： 5、25、50、100歐姆可(ke)選
交流(liu)測試信(xin)号電壓(ya)： 20 mV至1.0 V（開路(lu)），步長為(wei)5 mV
直流偏(pian)置電流(liu) 内部：以(yi)1 mA的步長(zhang)從0.0到1.0 A外(wai)部：高達(da)20.0 A的
标準(zhun)接口： IEEE-488.2•RS-232•處(chu)理程序(xu)•串行打(da)印機
測(ce)量延遲(chi)： 以1 ms的步(bu)長可在(zai)0到1000 ms範圍(wei)内編程(cheng)
平均： 可(ke)編程從(cong)1到1000
中值(zhi)：最後三(san)個測量(liang)值的 平(ping)均值
内(nei)置自動(dong)調整程(cheng)序
測試(shi)端子： 前(qian)面闆，四(si)個端子(zi)（BNC）可選測(ce)試治具(ju)
尺寸： 17x 5.25x 16英(ying)寸（432x 133x 406毫米(mi)）
重量：淨(jing)重15磅（8千(qian)克），出廠(chang)時21磅（9.9千(qian)克）
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